廠商名稱 |
產品名稱 |
產品訂貨號 |
貨期(周) |
產品價格 |
中國 |
光電輪廓儀 |
A1532085 |
洽詢 |
122500 |
產品特點
應用范圍:光電輪廓儀的應用范圍很廣,它主要用于測量各種精密加工零件表面的微觀三維結構,如表面粗糙度;零
件表面的刻線;刻槽的深度和鍍層的厚度等。具體地說,如量塊、光學零件表面的粗糙度;標尺、度盤的刻線深度;
光柵的槽形結構;鍍層厚度和鍍層邊界處的結構形貌;磁(光)盤、磁頭表面結構測量;硅片表面粗糙度及其上圖形
結構測量等等。由于儀器測量精度高,重復性好,具有非接觸和三維測量等特點,并采用計算機控制和快速分析、計
算測量結果,本儀器適用于各級測試、計量研究單位,工礦企業(yè)計量室,精密加工車間和高等院校及科學研究單位
等。
儀器由倒置式改為正置式,更符合人們的操作習慣;
應用CMOS代替CCD,省去圖象卡并提高了質量;
用低壓電源代替高壓電源,節(jié)省了儀器成本;
用國產的代替德國進口壓電陶瓷,解決了關鍵部件的進口難題;
增加了自動步距和亮度校正程序,同時增加了局部放大三維立體圖功能;
技術指標
表面微觀不平深度測量范圍:130?1nm
測量的重復性:sRa≤0.5nm
測量精度:8nm
物鏡倍率:40X
數(shù)值孔徑:0.65
儀器視場 目視:f0.25mm
攝象:0.13X0.13mm
儀器放大倍數(shù) 目視:500X
攝象(計算機屏幕觀察):2500X
接收器測量列陣:1000X1000
象素尺寸:5.2X5.2nm
測量特性
物理特性
可選附件
持有證書
備注
產品規(guī)格列表
產品訂貨號 |
產品介紹 |
符合標準 |
最小訂量 |
價格 |
貨期 |
備注 |
A1532085 |
光電輪廓儀:表面微觀不平深度測量范圍:130?1nm;測量的重復性:sRa≤0.5nm;測量精度:8nm;物鏡倍率:40X;數(shù)值孔徑:0.65;儀器視場 目視:f0.25mm;攝象:0.13X0.13mm;儀器放大倍數(shù) 目視:500X;攝象(計算機屏幕觀察):2500X;接收器測量列陣:1000X1000;象素尺寸:5.2X5.2nm,;品牌:中國 |
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122500 |
洽詢 |
備注 |