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中國 光電輪廓儀 A1532085 洽詢 122500

產品特點

應用范圍:光電輪廓儀的應用范圍很廣,它主要用于測量各種精密加工零件表面的微觀三維結構,如表面粗糙度;零

件表面的刻線;刻槽的深度和鍍層的厚度等。具體地說,如量塊、光學零件表面的粗糙度;標尺、度盤的刻線深度;

光柵的槽形結構;鍍層厚度和鍍層邊界處的結構形貌;磁(光)盤、磁頭表面結構測量;硅片表面粗糙度及其上圖形

結構測量等等。由于儀器測量精度高,重復性好,具有非接觸和三維測量等特點,并采用計算機控制和快速分析、計

算測量結果,本儀器適用于各級測試、計量研究單位,工礦企業(yè)計量室,精密加工車間和高等院校及科學研究單位

等。

儀器由倒置式改為正置式,更符合人們的操作習慣;

應用CMOS代替CCD,省去圖象卡并提高了質量;

用低壓電源代替高壓電源,節(jié)省了儀器成本;

用國產的代替德國進口壓電陶瓷,解決了關鍵部件的進口難題;

增加了自動步距和亮度校正程序,同時增加了局部放大三維立體圖功能;

技術指標

表面微觀不平深度測量范圍:130?1nm

測量的重復性:sRa≤0.5nm

測量精度:8nm

物鏡倍率:40X

數(shù)值孔徑:0.65

儀器視場 目視:f0.25mm

攝象:0.13X0.13mm

儀器放大倍數(shù) 目視:500X

攝象(計算機屏幕觀察):2500X

接收器測量列陣:1000X1000

象素尺寸:5.2X5.2nm

測量特性

物理特性

可選附件

持有證書

備注

產品規(guī)格列表
產品訂貨號 產品介紹 符合標準 最小訂量 價格 貨期 備注
A1532085 光電輪廓儀:表面微觀不平深度測量范圍:130?1nm;測量的重復性:sRa≤0.5nm;測量精度:8nm;物鏡倍率:40X;數(shù)值孔徑:0.65;儀器視場 目視:f0.25mm;攝象:0.13X0.13mm;儀器放大倍數(shù) 目視:500X;攝象(計算機屏幕觀察):2500X;接收器測量列陣:1000X1000;象素尺寸:5.2X5.2nm,;品牌:中國 1 122500 洽詢 備注

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