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德國(guó)Qnix | 超聲波涂層測(cè)厚儀 | A1530730 | 技術(shù)參數(shù)磁性基體(Fe模式)A1530730/A1530731均有此功能非磁性基體(NFe模式)A1530731有此功能測(cè)量范圍Fe:0-3000um/NFe:0-2000um顯示精度0.1um精度0… | 洽詢 | 5740 | |
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德國(guó)QNIX | 鍍層測(cè)厚儀 | A1531348 | 測(cè)量原理：磁感應(yīng)原理探頭型號(hào)：MIFE500測(cè)量單位：um或mil測(cè)量范圍：0-500um反應(yīng)速度：1600ms重復(fù)精度：±（0.1um+0.8讀數(shù)）測(cè)量精度：±（0.3um+… | 洽詢 | 23100 | |
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德國(guó)QNIX | 涂層測(cè)厚儀 | A1531493 | 基體Fe/NFe測(cè)量范圍20－500μm精度±5％最小接觸面積20×20mm最小曲率半徑凸面：Fe15mm/NFe50mm凹面：Fe30mm/NFe50mm儲(chǔ)存溫度-10℃－－60℃溫度補(bǔ)… | 洽詢 | 洽詢 | |
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德國(guó)Qnix | 涂層測(cè)厚儀 | A1530732 | 技術(shù)參數(shù)磁性基體Fe探頭（A1530732/A1530733）非磁性基體NFe探頭（A153073）測(cè)量范圍A1530732:0-2000umA1530733:0-5000um精度0-50um:≤±1um50-10… | 洽詢 | 7500 | |
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德國(guó)Qnix | 涂層測(cè)厚儀 | A1530734 | 基體Fe、NFe、NFe\NFe探頭形式一體、分體顯示LCD液晶顯示測(cè)量范圍0－2000μm0－5000μm測(cè)量精度0－2000μm：≤±2％2000－5000μm：≤±3％最小基… | 洽詢 | 7475 | |
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德國(guó)QNIX | 金屬涂層測(cè)厚儀 | A1532016 | 基體Fe/NFe探頭形式無(wú)線分體顯示LCD數(shù)字顯示測(cè)量范圍0－5000μm測(cè)量精度0－50μm：≤±1μm，50－1000μm：≤±1.5%，1000－2000μm：≤±2%，200… | 洽詢 | 17075 |
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