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中國(guó) 輕敲式原子力顯微鏡TAFM A1130362 洽詢(xún) 洽詢(xún)

產(chǎn)品特點(diǎn)

原子力顯微鏡(Atomic force microscopy)是一種以物理學(xué)原理為基礎(chǔ),通過(guò)掃描探針與樣品表

面原子相互作用而成像的新型表面分析儀器。一般原子力顯微鏡利用探針對(duì)樣品掃描,探針固定在對(duì)

探針與樣品表面作用力極敏感的微懸臂上。懸臂受力偏折會(huì)引起由激光源發(fā)出的激光束經(jīng)懸臂反射后

發(fā)生位移。檢測(cè)器接受反射光,最后接受信號(hào)經(jīng)過(guò)計(jì)算機(jī)系統(tǒng)采集、處理、形成樣品表面形貌圖像。
計(jì)算機(jī)全數(shù)字化控制,操作簡(jiǎn)捷直觀。

步進(jìn)馬達(dá)自動(dòng)進(jìn)行針尖--樣品逼近,保證實(shí)驗(yàn)圓滿成功。

深度陡度測(cè)量,三維顯示。

納米材料粗糙度測(cè)量、顆粒徑度測(cè)量及分布統(tǒng)計(jì)。

X、Y二維樣品移動(dòng)平臺(tái),快速搜索樣品區(qū)域.

標(biāo)準(zhǔn)RS232串行接口,無(wú)需任何計(jì)算機(jī)卡

樣品觀測(cè)范圍從0.001um-20000um。

掃描速度達(dá)40000點(diǎn)/秒

可選配納米刻蝕功能模塊。

技術(shù)指標(biāo)

AFM探頭

樣品尺寸:直徑小等于30mm;厚度小等于15mm。

XY最大掃描范圍:標(biāo)準(zhǔn)6X6微米

XY向分辨率:0.4nm(輕敲模式);0.25nm(AFM模式)

Z向分辨率:0.05nm(輕敲式,DNA定標(biāo));0.03nm(AFM云母定標(biāo))

XY二維樣品移動(dòng)范圍:5mm;精度0.5微米

步進(jìn)馬達(dá)自動(dòng)進(jìn)行針尖-樣品逼近

44-283X連續(xù)變倍彩色CCD顯微觀察系統(tǒng)(選配)

AFM電化學(xué)針尖塊,液電池,液體輕敲式成像功能(選配)

全金屬屏蔽防震隔音箱/精密隔震平臺(tái)(選購(gòu)

測(cè)量特性

電子學(xué)控制器:  
XYZ控制 18-Bit D/A
數(shù)據(jù)采樣 14-BitA/D、16 Bit A/D多路同步采樣
Z向反饋 DSP數(shù)字反饋
反饋采樣速率
高壓放大器 集成高壓運(yùn)算放大器,最大電壓范圍+/-150V
頻率范圍 20K-1000KHz
幅度范圍 0-10.0V
掃描速率 >40000點(diǎn)/秒
掃描角度 0-360度
掃描偏移 任意
圖像采樣點(diǎn) 256X256或512X512
步進(jìn)馬達(dá)控制 手動(dòng)和自動(dòng)進(jìn)退
計(jì)算機(jī)接口 標(biāo)準(zhǔn)RS232串行/USB

物理特性

可選附件

持有證書(shū)

備注

產(chǎn)品規(guī)格列表
產(chǎn)品訂貨號(hào) 產(chǎn)品介紹 符合標(biāo)準(zhǔn) 最小訂量 價(jià)格 貨期 備注
A1130362 輕敲式原子力顯微鏡TAFM:AFM探頭;樣品尺寸:直徑小等于30mm;厚度小等于15mm;XY最大掃描范圍:標(biāo)準(zhǔn)6X6微米;XY向分辨率:0.4nm(輕敲模式);0.25nm(AFM模式);Z向分辨率:0.05nm(輕敲式,DNA定標(biāo));0.03nm(AFM云母定標(biāo));XY二維樣品移動(dòng)范圍:5mm;精度0.5微米;步進(jìn)馬達(dá)自動(dòng)進(jìn)行針尖-樣品逼近;44-283X連續(xù)變倍彩色CCD顯微觀察系統(tǒng)(選配);AFM電化學(xué)針尖塊,液電池,液體輕敲式成像功能(選配);全金屬屏蔽防震隔音箱/精密隔震平臺(tái)(選購(gòu),;品牌: 中國(guó) 1 洽詢(xún) 洽詢(xún) 備注

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