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可以測(cè)量光澤、峰值反射率、霧影和鮮映性的全能測(cè)試儀器

傳統(tǒng)的光學(xué)檢測(cè)儀器采用濾光片和簡(jiǎn)單的二極管來(lái)測(cè)量指定區(qū)域的反射影像；表面光學(xué)檢測(cè)儀可以測(cè)量20?和 60?入射光反

射角度上+/- 6?的所有反射光對(duì)表面成像的影響情況。

兩角度測(cè)量?jī)x器

表面光學(xué)檢測(cè)儀可以在20?和60?準(zhǔn)確給出包括任何晦暗或光亮表面的各種數(shù)據(jù)，數(shù)據(jù)重復(fù)性非常完美。

光度分析

使用它和配置的USB接口的電纜，客戶可以把各種相近材料幾種曲線疊加比較，這種指紋圖譜顯示表面光學(xué)情況的方法可以

看到產(chǎn)品之間極細(xì)小的區(qū)別。

高精度的光澤測(cè)量

表面光學(xué)檢測(cè)儀在全測(cè)量范圍內(nèi)都能保證比傳統(tǒng)的光澤儀有更好的精度和重復(fù)性。

傳統(tǒng)的光澤儀要求在完全平面上測(cè)量，測(cè)量曲面或測(cè)量位置變化時(shí)都會(huì)引起很大誤差。

IQ表面光學(xué)檢測(cè)儀可以自動(dòng)根據(jù)測(cè)量位置和曲率調(diào)整并計(jì)算真實(shí)的光澤值。

鏡面反射峰值測(cè)量

IQ表面光學(xué)檢測(cè)儀可以根據(jù)產(chǎn)品形狀、測(cè)量位置、霧影和鮮映性來(lái)計(jì)算出表面的峰值反射率。

霧影測(cè)量

反射霧影是高光澤表面鏡面反射光影響的一部分。產(chǎn)品表面的霧影是由于表面的微小結(jié)構(gòu)造成的，

也稱為乳狀的霧影。這個(gè)特性用普通的光澤儀是檢測(cè)不到的，但是霧影卻是影響產(chǎn)品質(zhì)量的一個(gè)重要因素。

鮮映性測(cè)量

鮮映性可以描述為明亮度、輪廓分明度或清晰度。當(dāng)產(chǎn)品表面給人的感覺(jué)是清晰、光亮或輪廓分明的，則被認(rèn)為是質(zhì)量好的

產(chǎn)品。

表面光學(xué)檢測(cè)儀可以通過(guò)測(cè)量鮮映性反映產(chǎn)品的品質(zhì)。

表面的鮮映性值受光澤、霧影和拋光痕跡及橘皮等表面情況的影響。

測(cè)量光澤：可以在20和60角度下測(cè)量光澤 20?： 高光澤表面，如汽車、光亮的金屬和塑料等。 60?：通用角度，各種表面 • 分辨率：0.1GU • 重復(fù)性：0.1GU • 重現(xiàn)性：0.5GU • 符合標(biāo)準(zhǔn)：ASTM D523, ISO 2813，JIS 8741 ASTM D2457,DIN 67530,	光度分析-雙角度 在Novo-Soft IQ軟件里分析和顯示。 • 范圍： 14-26? • 范圍： 54-66? • 精度：0.05? • 重復(fù)性：0.2 % • 重現(xiàn)性： 0.5%
測(cè)量霧影：可以在20和60角度下測(cè)量霧影 測(cè)量霧影： • 精度：0.1HU • 重復(fù)性：0.2HU • 重現(xiàn)性：0.5HU • 符合標(biāo)準(zhǔn)：ASTM E430	標(biāo)準(zhǔn)配置： •BAM可追溯校準(zhǔn)板； •BAM可追溯鏡面標(biāo)準(zhǔn)板； •操作手冊(cè)； •手提箱； •4節(jié)高能量電池； •USB數(shù)據(jù)線； •Novo-Soft IQ CD軟件； •螺絲刀；
測(cè)量峰值反射率：可以在20和60角度下測(cè)量峰值反射率 • 精度：0.1 % • 重復(fù)性：0.2 % • 重現(xiàn)性：0.5% • 符合標(biāo)準(zhǔn)：ASTM E430	附加服務(wù)： •免費(fèi)增加產(chǎn)品保修期至2年。 •免費(fèi)更換光源 •提供UKAS校準(zhǔn)服務(wù)(收費(fèi)) •其他校準(zhǔn)和技術(shù)支持(根據(jù)情況收費(fèi))
測(cè)量鮮映性 ： 可以在20和60角度下測(cè)量鮮映性 • 精度：  0.1 % • 重復(fù)性：0.2 % • 重現(xiàn)性：0.5% • 符合標(biāo)準(zhǔn)：ASTM E430	符合標(biāo)準(zhǔn)： •BS EN ISO 2813 •ASTM D523 •ASTM D2457 •DIN 67530 •JIS 8741