廠商名稱 | 產(chǎn)品名稱 | 產(chǎn)品訂貨號 | 貨期(周) | 產(chǎn)品價格 |
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德國EPK | 涂層測厚儀 | A1531575 | 洽詢 | 17222 |
型號特性 |
主機(jī) |
探頭類型 |
內(nèi)置外置可換 |
數(shù)據(jù)記憶組數(shù) |
100 |
存儲數(shù)據(jù)量 |
最多100,000個 |
統(tǒng)計值 |
讀值個數(shù),最小值,最大值,平均值,標(biāo)準(zhǔn)方差,變異系數(shù),組統(tǒng)計值(標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置/自由配置) |
校準(zhǔn)程序符合國際標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范 |
ISO,SSPC,瑞典標(biāo)準(zhǔn),澳大利亞標(biāo)準(zhǔn) |
校準(zhǔn)模式 |
出廠設(shè)置校準(zhǔn),零點校準(zhǔn),2點校準(zhǔn),3點校準(zhǔn),使用者可調(diào)節(jié)補(bǔ)償值 |
極限值監(jiān)控 |
聲、光報警提示超過極限 |
測量單位 |
um,mm,cm;mils,inch,thou |
操作溫度 |
-10℃-60℃ |
存放溫度 |
-20℃-70℃ |
數(shù)據(jù)接口 |
IrDA 1.0(紅外接口) |
電源 |
2節(jié)AA電池 |
標(biāo)準(zhǔn) |
DIN EN ISO 1461,2064,2178,2360,2808,3882,19840 |
體積 |
157mm x 75.5mm x 49mm |
重量 |
約175g(內(nèi)置)/230g(外置) |
探頭貨號 |
A1531583 |
A1531584 |
A1531585 |
A1531586 |
A1531587 |
A1531588 |
A1531589 |
A1531590 | ||
探頭特性 |
F1.5 |
N0.7 |
N1.5 |
F2 |
F5 |
N2.5 |
FN5 |
F15 | ||
F |
N |
F |
F |
N |
F | |||||
測量范圍 |
0-1.5mm |
0-0.7mm |
0-2mm |
0-5mm |
0-2.5mm |
0-15mm | ||||
使用范圍 |
小工件,薄涂層,跟測量支架一起使用 |
粗糙表面 |
標(biāo)準(zhǔn)探頭,使用廣泛 |
厚涂層 | ||||||
測量原理 |
磁感應(yīng) |
電渦流 |
磁感應(yīng) |
磁感應(yīng) |
電渦流 |
磁感應(yīng) | ||||
信號處理 |
探頭內(nèi)部32位信號處理(SIDSP) | |||||||||
精確度 |
±(1μm+0.75%讀值) |
±(1.5μm+0.75%讀值) |
±(5μm+0.75%讀值) | |||||||
重復(fù)性 |
±(0.5μm+0.5%讀值) |
±(0.8μm+0.5%讀值) |
±(2.5μm+0.5%讀值) | |||||||
低端分辨率 |
0.05μm |
0.1μm |
1μm | |||||||
最小曲率半徑(凸) |
1.0mm |
1.5mm |
5mm | |||||||
最小曲率半徑(凹,外置探頭) |
7.5mm |
10mm |
25mm | |||||||
最小曲率半徑(凹,內(nèi)置探頭) |
30mm |
30mm |
30mm | |||||||
最小測量面積 |
Φ5mm |
Φ10mm |
Φ25mm | |||||||
最小基體厚度 |
0.3mm |
40μm |
0.5mm |
0.5mm |
40μm |
1mm | ||||
連續(xù)模式下測量速度 |
每秒20個讀數(shù) | |||||||||
單值模式下最大測量速度 |
每分鐘70個讀數(shù) |
產(chǎn)品訂貨號 | 產(chǎn)品介紹 | 符合標(biāo)準(zhǔn) | 最小訂量 | 價格 | 貨期 | 備注 |
A1531575 | 涂層測厚儀:只含主機(jī);探頭類型:內(nèi)置外置可換;數(shù)據(jù)記憶組數(shù):100;存儲數(shù)據(jù)量:最多100,000個;統(tǒng)計值:讀值個數(shù),最小值,最大值,平均值,標(biāo)準(zhǔn)方差,變異系數(shù),組統(tǒng)計值(標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置/自由配置);校準(zhǔn)程序符合國際標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范:ISO,SSPC,瑞典標(biāo)準(zhǔn),澳大利亞標(biāo)準(zhǔn);校準(zhǔn)模式:出廠設(shè)置校準(zhǔn),零點校準(zhǔn),2點校準(zhǔn),3點校準(zhǔn),使用者可調(diào)節(jié)補(bǔ)償值;極限值監(jiān)控:聲、光報警提示超過極限;測量單位:um,mm,cm;mils,inch,thou;操作溫度:-10℃-60℃;存放溫度:-20℃-70℃;數(shù)據(jù)接口:IrDA 1.0(紅外接口);電源:2節(jié)AA電池;標(biāo)準(zhǔn):DIN EN ISO 1461,2064,2178,2360,2808,3882,19840;ASTM B244,B499,D7091,E376;AS 3894.3,SS 1841 60,SSPC-PA 2;體積:157mm x 75.5mm x 49mm;重量:約175g(內(nèi)置)/230g(外置);品牌:德國EPK | 1 | 17222 | 洽詢 | 備注 | |
A1531583 | F1.5探頭:探頭特性:F;測量范圍:0-1.5mm;使用范圍:小工件,薄涂層,跟測量支架一起使用;測量原理:磁感應(yīng);信號處理: 探頭內(nèi)部32位信號處理(SIDSP);精確度: ±(1μm+0.75%讀值);重復(fù)性: ±(0.5μm+0.5%讀值);低端分辨率: 0.05μm;最小曲率半徑(凸): 1.0mm;最小曲率半徑(凹,外置探頭): 7.5mm;最小曲率半徑(凹,內(nèi)置探頭): 30mm;最小測量面積: Φ5mm;最小基體厚度: 0.3mm;連續(xù)模式下測量速度: 每秒20個讀數(shù);單值模式下最大測量速度: 每分鐘70個讀數(shù);品牌:德國EPK | 1 | 11520 | 洽詢 | 備注 | |
A1531584 | N 07探頭:探頭特性:N;測量范圍:0-0.7mm;使用范圍:小工件,薄涂層,跟測量支架一起使用;測量原理:電渦流;信號處理: 探頭內(nèi)部32位信號處理(SIDSP);精確度: ±(1μm+0.75%讀值);重復(fù)性: ±(0.5μm+0.5%讀值);低端分辨率: 0.05μm;最小曲率半徑(凸): 1.0mm;最小曲率半徑(凹,外置探頭): 7.5mm;最小曲率半徑(凹,內(nèi)置探頭): 30mm;最小測量面積: Φ5mm;最小基體厚度:40μm;連續(xù)模式下測量速度: 每秒20個讀數(shù);單值模式下最大測量速度: 每分鐘70個讀數(shù);品牌:德國EPK | 1 | 11867 | 洽詢 | 備注 | |
A1531585 | FN 1.5探頭:探頭特性:F1.5N0.7N1.5;FN;測量范圍:0-1.5mm0-0.7mm;使用范圍:小工件,薄涂層,跟測量支架一起使用;測量原理:磁感應(yīng)電渦流;信號處理:探頭內(nèi)部32位信號處理(SIDSP);精確度:±(1μm+0.75%讀值);重復(fù)性:±(0.5μm+0.5%讀值);低端分辨率:0.05μm;最小曲率半徑(凸):1.0mm;最小曲率半徑(凹,外置探頭):7.5mm;最小曲率半徑(凹,內(nèi)置探頭):30mm;最小測量面積:Φ5mm;最小基體厚度:0.3mm40μm;連續(xù)模式下測量速度:每秒20個讀數(shù);單值模式下最大測量速度:每分鐘70個讀數(shù);品牌:德國EPK | 1 | 15920 | 洽詢 | 備注 | |
A1531586 | F2探頭:探頭特性:F2;測量范圍:0-2mm;使用范圍:粗糙表面;測量原理:磁感應(yīng);信號處理:探頭內(nèi)部32位信號處理(SIDSP);精確度:±(1.5μm+0.75%讀值);重復(fù)性:±(0.8μm+0.5%讀值);低端分辨率:0.1μm;最小曲率半徑(凸):1.5mm;最小曲率半徑(凹,外置探頭):10mm;最小曲率半徑(凹,內(nèi)置探頭):30mm;最小測量面積:Φ10mm;最小基體厚度:0.5mm;連續(xù)模式下測量速度:每秒20個讀數(shù);單值模式下最大測量速度:每分鐘70個讀數(shù);品牌:德國EPK | 1 | 8538 | 洽詢 | 備注 | |
A1531587 | F5探頭:探頭特性:F5;測量范圍:0-5mm;使用范圍:標(biāo)準(zhǔn)探頭,使用廣泛;測量原理:磁感應(yīng);信號處理:探頭內(nèi)部32位信號處理(SIDSP);精確度:±(1.5μm+0.75%讀值);重復(fù)性:±(0.8μm+0.5%讀值);低端分辨率:0.1μm;最小曲率半徑(凸):1.5mm;最小曲率半徑(凹,外置探頭):10mm;最小曲率半徑(凹,內(nèi)置探頭):30mm;最小測量面積:Φ10mm;最小基體厚度:0.5mm;連續(xù)模式下測量速度:每秒20個讀數(shù);單值模式下最大測量速度:每分鐘70個讀數(shù);品牌:德國EPK | 1 | 7319 | 洽詢 | 備注 | |
A1531588 | N2.5探頭:探頭特性:N2.5;測量范圍:0-2.5mm;使用范圍:標(biāo)準(zhǔn)探頭,使用廣泛;測量原理:電渦流;信號處理:探頭內(nèi)部32位信號處理(SIDSP);精確度:±(1.5μm+0.75%讀值);重復(fù)性:±(0.8μm+0.5%讀值);低端分辨率:0.1μm;最小曲率半徑(凸):1.5mm;最小曲率半徑(凹,外置探頭):10mm;最小曲率半徑(凹,內(nèi)置探頭):30mm;最小測量面積:Φ10mm;最小基體厚度:40μm;連續(xù)模式下測量速度:每秒20個讀數(shù);單值模式下最大測量速度:每分鐘70個讀數(shù) | 10131 | 洽詢 | 備注 | ||
A1531589 | FN5探頭:探頭特性: FN5;測量范圍: 0-2.5mm;使用范圍: 標(biāo)準(zhǔn)探頭,使用廣泛;測量原理: 電渦流;信號處理:探頭內(nèi)部32位信號處理(SIDSP);精確度:±(1.5μm+0.75%讀值);重復(fù)性:±(0.8μm+0.5%讀值);低端分辨率:0.1μm;最小曲率半徑(凸):1.5mm;最小曲率半徑(凹,外置探頭):10mm;最小曲率半徑(凹,內(nèi)置探頭):30mm;最小測量面積:Φ10mm;最小基體厚度:40μm;連續(xù)模式下測量速度:每秒20個讀數(shù);單值模式下最大測量速度:每分鐘70個讀數(shù);品牌:德國EPK | 1 | 14183 | 洽詢 | 備注 | |
A1531590 | F15探頭:探頭特性:F15;測量范圍:0-15mm;使用范圍:厚涂層;測量原理:磁感應(yīng);信號處理:探頭內(nèi)部32位信號處理(SIDSP);精確度:±(5μm+0.75%讀值);重復(fù)性:±(2.5μm+0.5%讀值);低端分辨率:1μm;最小曲率半徑(凸):5mm;最小曲率半徑(凹,外置探頭):25mm;最小曲率半徑(凹,內(nèi)置探頭):30mm;最小測量面積:Φ25mm;最小基體厚度:1mm;連續(xù)模式下測量速度:每秒20個讀數(shù);單值模式下最大測量速度:每分鐘70個讀數(shù);品牌:德國EPK | 1 | 11520 | 洽詢 | 備注 | |
AL1532290 | 探頭支架;品牌:德國EPK | 1 | 25600 | 洽詢 | 備注 | |
AL1532291 | 探頭架適配器:(適用于探頭F 1.5/ FN 1.5/ N 07);品牌:德國EPK | 1 | 洽詢 | 洽詢 | 備注 | |
AL1532292 | USB紅外適配器;品牌:德國EPK | 1 | 1157 | 洽詢 | 備注 | |
AL1532293 | MSOFT41軟件:(德語/英語/法語/西班牙語,用于傳輸數(shù)據(jù)和統(tǒng)計評估的USB);品牌:德國EPK | 1 | 3560 | 洽詢 | 備注 |
產(chǎn)品名稱 | 產(chǎn)品訂貨號 | 簡要說明 | 送貨時間 | 價格 | 搜索關(guān)鍵字 | |||||||||
一體化超聲波測厚儀 | A1531722 |
高度: 100毫米(4英寸) 額定直徑: 35毫米(1.38英寸) 探頭直徑: 12… | 洽詢 | 18666 |
便攜式超聲波測厚儀 漆膜測厚儀價格 |
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涂層測厚儀 | A1531559 |
型號特性 主機(jī) 探頭類型 內(nèi)置 … | 洽詢 | 13025 |
漆膜測厚儀價格 超聲波測厚儀 |
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涂層測厚儀 | A1531567 |
型號特性 主機(jī) 探頭類型 外置 … | 洽詢 | 14320 |
漆膜測厚儀價格 超聲波測厚儀 |
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