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工作原理

使用雙晶探頭的超聲波脈沖/回波法

測(cè)量范圍

0.5至508毫米（0.02至20英寸）

取決于所用探頭、材料、表面狀況和溫度

單位和顯示分辨率

毫米-0.01，0.1

英寸-0.001，0.01

顯示模式

l 厚度值模式

l A掃描或波形模式

l 最小/最大值捕獲模式

l 差值/減薄率模式

V路徑修正

自動(dòng)V聲程修正，補(bǔ)償雙晶探頭的非線性度

示值誤差

±0.05mm (25mm以下)

±0.2% H (100mm以下)

±0.5% H (100mm以上)

注：H為被測(cè)物厚度

重復(fù)性

±0.05mm

顯示屏

320×240點(diǎn)陣，2.4寸真彩屏

測(cè)量速率

每秒4次測(cè)量

材料聲速范圍

500～9999m/s，0.0197～0.3937in/us

質(zhì)保期

2年

工作語(yǔ)言

中文

電源

兩節(jié)1.5V AA電池

操作時(shí)間

兩節(jié)5號(hào)電池，使用時(shí)間大于36小時(shí)

自動(dòng)關(guān)機(jī)

5分鐘無(wú)操作后自動(dòng)關(guān)機(jī)

工作溫度

-10℃～+50℃，有特殊要求可達(dá)-20℃

尺寸

153mm×76mm×37mm (H×W×D)

重量

含電池280g

標(biāo)準(zhǔn)配置

測(cè)厚儀

標(biāo)配探頭

儀器箱

兩節(jié)1.5V堿性電池

耦合劑

操作手冊(cè)

附件

多種可供選擇的探頭；階梯試塊；耦合劑及高溫耦合劑

采用脈沖—回波法原理的普通超聲波測(cè)厚儀需要滿足以下兩個(gè)條件才能成功測(cè)量：

1. 第一底面回波要高于閘門（閘門電平高度是固定的不可調(diào)節(jié)）。

2. 第一底面回波前沒(méi)有其它雜波高于閘門（否則測(cè)出的將是產(chǎn)生雜波處的厚度）。

有時(shí)許多情況無(wú)法滿足上述要求，例如近表面高度腐蝕、粗晶材料（如鑄鐵）、鋁材料、小直徑管、超薄板、超厚

板、表面粗糙、材料內(nèi)部的不均勻、內(nèi)含缺陷、疊片結(jié)構(gòu)等等，普通超聲波測(cè)厚儀將無(wú)能為力。

可輕松解決上述問(wèn)題：

1. 可以通過(guò)調(diào)整增益和閘門高度，使第一底面回波高于閘門。

2. 可以通過(guò)消隱功能使第一底面回波前的其它雜波無(wú)效。

以前的棘手難題迎刃而解。

實(shí)時(shí)彩色A-掃描(Live Color A-Scan)

用戶在屏幕上能直接看到彩色超聲信號(hào)波型（或A掃描），這對(duì)于需要驗(yàn)證厚度讀數(shù)是否正確的場(chǎng)合是至關(guān)重要的。許

多情況會(huì)引發(fā)錯(cuò)誤的厚度讀數(shù)甚至無(wú)讀數(shù)，根據(jù)波形能輕松找到問(wèn)題所在，然后根據(jù)波形僅需對(duì)增益（GAIN）、消隱

(BLANKING)、閘門(GATE)這三個(gè)參數(shù)做適當(dāng)調(diào)整，就可得到正確的厚度讀數(shù)。

波形的用處：根據(jù)波形驗(yàn)證厚度讀數(shù)，根據(jù)波形找到問(wèn)題所在，根據(jù)波形尋求解決之道，根據(jù)波形調(diào)整參數(shù)解決問(wèn)

題。

增益調(diào)整(GAIN)

調(diào)整儀器對(duì)回波信號(hào)的放大倍數(shù)，允許以ldB 為單位手動(dòng)增加或減少。這個(gè)功能對(duì)聲衰減材料（比如金屬鑄件）的測(cè)

量是非常有效的。

消隱功能(BLANKING)

使紅色消隱條范圍內(nèi)的波形無(wú)效，可以略去影響測(cè)量的

有害雜波，比如因材料表面粗糙或內(nèi)部不均勻引起的噪聲。

閘門高度可調(diào)

(GATE)

利用消隱條略去前面的噪

聲

只有回波高于閘門時(shí)，儀器才認(rèn)為接

收到了回波，才會(huì)有測(cè)量值�？梢�(jiàn)閘

門高度可調(diào)的重要性，尤其是在應(yīng)對(duì)低回波信號(hào)的應(yīng)用中更是如此（比如超薄板、超厚板的測(cè)量）。

紅色箭頭

A-掃描模式有一個(gè)紅色箭頭指示測(cè)量點(diǎn)，厚度讀數(shù)就是該點(diǎn)的橫坐標(biāo)。它可幫助判斷厚度讀數(shù)是否正確，正確測(cè)量

時(shí)，紅箭

頭應(yīng)該指向第一底面回波前沿。 用PT04探頭測(cè)0.5mm薄板的波形圖

范圍(RANGE)

調(diào)整顯示在屏幕上的波形范圍，視覺(jué)上波形被壓縮或展開(kāi)。如果沒(méi)有正確的設(shè)置顯示范圍，回波波形可能出了顯示區(qū)

域而看不到，但仍能正確地顯示測(cè)量值。

平移(DELAY)

調(diào)整顯示在屏幕上的波形的起始位置，視覺(jué)上波形被水平移動(dòng)。如果沒(méi)有正確

的設(shè)置平移，回波波形可能出了顯示區(qū)域而看不到，但仍能正確地顯示測(cè)量

值。范圍和平移功能可將波形的任何一部分放大顯示在屏幕上。

整流方式

可選擇射頻、正半波、負(fù)半波、全波四種整流方式。

射頻：描繪了完整的回波波形；

正半波：指去掉回波的負(fù)半波只顯示正半波；

負(fù)半波：指去掉回波的正半波而將負(fù)半波翻轉(zhuǎn)顯示為正；

全波： 指回波的正半波和翻轉(zhuǎn)為正的負(fù)半波均顯示。 設(shè)置整流模式

報(bào)警模式

可設(shè)置報(bào)警上限和報(bào)警下限。報(bào)警時(shí)波形和厚度值動(dòng)態(tài)改變顏色。

縮減率測(cè)量

儀器具有差值和縮減率模式。差值模式顯示實(shí)測(cè)厚度與預(yù)設(shè)厚

度之間的差值變化。縮減率是計(jì)算并顯示材料變薄以后厚度縮

減的百分比。典型應(yīng)用是對(duì)因彎曲而變薄的金屬材料進(jìn)行測(cè)量。 報(bào)警

時(shí)的正半波

最小/最大值模式

該模式在屏幕上同時(shí)顯示當(dāng)前厚度值、最小厚度值和最大厚度值。可沿著工件表面拖動(dòng)探頭，儀器自動(dòng)找出最薄值和

最厚值。
白色數(shù)字表示耦合 差值/縮減率模式 最小/最大值模式,紅色數(shù)字表示報(bào)警

多種探頭可選

儀器內(nèi)置多種探頭的V聲程校正程序，分標(biāo)準(zhǔn)探頭、小徑管探頭、微型探頭、粗晶探頭、高溫探頭，頻率范圍從2至

10MHz，晶片尺寸從4至12mm。一般來(lái)說(shuō)，探頭頻率越高而直徑越小，越適合對(duì)較薄或彎曲工件的測(cè)量。