立式光學(xué)計(jì)-價(jià)格|光學(xué)投影儀|投影光學(xué)系統(tǒng)-上海艾測電子科技有限公司

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產(chǎn)品目錄

廠商名稱	產(chǎn)品名稱	產(chǎn)品訂貨號(hào)	貨期（周）	產(chǎn)品價(jià)格
中國	立式光學(xué)計(jì)	A630706	洽詢	18400

產(chǎn)品特點(diǎn)

本儀器是一種采用量塊或標(biāo)準(zhǔn)零件與試件相比較的方式測量物體外形尺寸的儀器。主要用于五等精

度量塊，一級(jí)精度柱型規(guī)及各種圓柱形，球形，線形等物體的直徑或板形物體的厚度的精密測量，

對(duì)被測件作微小位移測量。亦可用來控制精密零件的加工。

標(biāo)準(zhǔn)配件可調(diào)帶筋園臺(tái)、可調(diào)園平臺(tái)、帶筋固定方臺(tái)

平面測帽、平面測帽、小球面測帽、刃形測帽

技術(shù)指標(biāo)

被測件最大長度  180 mm

直接測量范圍      ≥±0.1 mm

分劃板分度值      0.001 mm

總放大倍數(shù)         1000×

測量力                (2±0.2) N

最大不準(zhǔn)確度      ±0.00025 mm

儀器體積            300×160×410 mm

儀器重量            30 kg

測量特性

物理特性

可選附件

持有證書

備注

產(chǎn)品規(guī)格列表

產(chǎn)品訂貨號(hào)	產(chǎn)品介紹	符合標(biāo)準(zhǔn)	最小訂量	價(jià)格	貨期	備注
A630706	立式光學(xué)計(jì)：被測件最大長度 180 mm；直接測量范圍 ≥±0.1 mm；分劃板分度值 0.001 mm；總放大倍數(shù) 1000×；測量力 (2±0.2) N；最大不準(zhǔn)確度 ±0.00025 mm；儀器體積 300×160×410 mm；儀器重量 30 kg，；品牌：中國		1	18400	洽詢	備注