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日本精工 |
X射線熒光鍍層厚度測量儀
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A1532026 |
射線源空冷式小型X射線管準直器2種類型0.1、0.2mmφ計算機CPU(AT互換電腦)、HDD、FDD、Microsoft-Windows®過濾裝置數(shù)字過濾裝置樣品平臺臺面尺… |
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中國 |
一體式涂層測厚儀
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A1501028 |
測量范圍:0~1250um(標準量程)其它量程可定制分辨率:0.1/1最小曲率半徑:凸5mm/凹5mm最小測量面積:10x10mm最薄基底:0.4mm使用環(huán)境:溫度:0~40℃… |
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1883 |
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中國 |
涂層測厚儀
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A1501029 |
測量范圍:0~1250um(標準量程)其它量程可定制分辨率:0.1/1最小曲率半徑:凸5mm/凹5mm最小測量面積:10x10mm最薄基底:0.4mm使用環(huán)境:溫度:0~40℃… |
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2072 |
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中國 |
覆層測厚儀
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A1532111 |
基本功能量程基本精度鐵基體測量0μm~55μm±3dgt56μm~1000μm±(3.0%+1dgt)鋁基體測量0μm~55μm±3dgt56μm~1000μm±(3.0%+1dgt)分辨率1μ… |
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中國 |
覆層測厚儀
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A1532112 |
基本功能量程基本精度鐵基體測量0μm~55μm±3dgt56μm~1000μm±(3.0%+1dgt)分辨率1μm√特殊功能最大顯示9999自動關機√低電壓顯示√數(shù)字保持… |
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德國EPK |
涂層測厚儀
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A1531559 |
型號特性主機探頭類型內(nèi)置數(shù)據(jù)記憶組數(shù)10存儲數(shù)據(jù)量最多10,000個統(tǒng)計值讀值個數(shù),最小值,最大值,平均值,標準方差,變異系數(shù),組統(tǒng)計值(標準設… |
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13025 |
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中國 |
涂層測厚儀
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A1532226 |
F1N1工作原理磁感應電渦流測量范圍0~1250μm0~1250μm低限分辨率0.1μm示值誤差一點校準±(3%H+1)±(3%H+1.5)二點校準±[(1~3%)H+1]±[(1~3… |
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3850 |
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德國EPK |
涂層測厚儀
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A1531567 |
型號特性主機探頭類型外置數(shù)據(jù)記憶組數(shù)10存儲數(shù)據(jù)量最多10,000個統(tǒng)計值讀值個數(shù),最小值,最大值,平均值,標準方差,變異系數(shù),組統(tǒng)計值(標準設… |
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14320 |
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中國 |
涂層測厚儀
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AL1532279 |
采用了磁性和渦流兩種測厚方法測量范圍:(0~1250)μm低限分辨率:1μm測量精度:±(3%H+1)μm,H為被測涂層厚度顯示方法:高對比度的LCD液晶… |
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3000 |
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德國EPK |
涂層測厚儀
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A1531575 |
型號特性主機探頭類型內(nèi)置外置可換數(shù)據(jù)記憶組數(shù)100存儲數(shù)據(jù)量最多100,000個統(tǒng)計值讀值個數(shù),最小值,最大值,平均值,標準方差,變異系數(shù),組統(tǒng)計… |
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17222 |
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德國EPK |
口袋式涂層測厚儀
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AL1532294 |
AL1532294AL1532295量程0-3mm/120milsF:0-3mm/120mils/N:0-2.5mm/100mils原理磁性磁性/渦流信號處理內(nèi)置32位數(shù)字處理進程(SIDSP)精確度一點校準… |
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10710 |
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中國 |
涂層測厚儀
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AL1532425 |
采用了磁性和渦流兩種測厚方法。通過選擇相應的測頭,既可測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度,又可測量非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度;… |
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7000 |
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中國 |
涂層測厚儀
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A1532168 |
測頭類型A1532168A1532169A1532168測頭類型F1N1F1或N1工作原理磁感應電渦流磁感應或電渦流測量范圍0~1250μm低限分辨率0.1μm示值誤差一點校準±… |
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2000 |
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中國 |
紅外測溫儀
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AL807717 |
AL807717AL807718測溫范圍-20~700℃400~1800℃測量精度±1%或±1℃取最大重復精度±0.5%或±0.5℃光學分辨率40:1(95%的能量)50:1發(fā)射率可調(diào)顯… |
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3360 |