廠商名稱 | 產(chǎn)品名稱 | 產(chǎn)品訂貨號(hào) | 貨期(周) | 產(chǎn)品價(jià)格 |
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德國(guó)EPK | 涂鍍層測(cè)厚儀 | A1531188 | 洽詢 | 16884 |
技術(shù)特征 |
A1531188 |
A1531189 |
A1531530 |
A1531531 |
MINITEST存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)量 |
||||
應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同測(cè)頭或測(cè)試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù)) |
1 |
1 |
10 |
99 |
每個(gè)應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對(duì)組內(nèi)數(shù)據(jù)自動(dòng)統(tǒng)計(jì)計(jì)算,可設(shè)寬容度極限值) |
1 |
10 |
98 | |
可用各自的日期時(shí)間標(biāo)識(shí)特性的組數(shù) |
1 |
最多500 |
最多500 | |
數(shù)據(jù)總量 |
1 |
10000 |
10000 |
10000 |
MINITEST統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能 |
||||
讀數(shù)的六種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar |
● |
|||
讀數(shù)的八種統(tǒng)計(jì)值x(均值的均值),s,n,max,min,kvar,cp,cpk |
● |
● | ||
組統(tǒng)計(jì)值六種x,x,n,max,min,kvar |
● |
|||
組統(tǒng)計(jì)值八種 x(均值的均值),s,n,max,min,kvar,cp,cpk |
● |
● | ||
存儲(chǔ)顯示每一應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù) |
● | |||
分組打印以上顯示和存儲(chǔ)得數(shù)據(jù)、統(tǒng)計(jì)值 |
● |
● | ||
顯示并打印測(cè)量值、打印的日期和時(shí)間 |
● |
● |
● | |
MINITEST 校準(zhǔn)方法 |
||||
透過(guò)涂層進(jìn)行校準(zhǔn)(CTC) |
● |
● |
● | |
在粗糙表面上作平均零校準(zhǔn) |
● |
● |
● |
● |
利用PC機(jī)進(jìn)行基礎(chǔ)校準(zhǔn) |
● |
● |
● |
● |
補(bǔ)償一個(gè)常數(shù)(OFFSET) |
● |
● | ||
外設(shè)的讀值傳輸存儲(chǔ)功能 |
● |
● |
● | |
保護(hù)并鎖訂校準(zhǔn)值 |
● |
● |
● |
● |
更換電池時(shí)存儲(chǔ)讀值 |
● |
● |
● |
● |
設(shè)置極限值 |
● |
● | ||
公英制轉(zhuǎn)換 |
● |
● |
● |
● |
連續(xù)測(cè)量模式快速測(cè)量,通過(guò)模擬柱識(shí)別最大最小值 |
● |
● | ||
連續(xù)測(cè)量模式中測(cè)量穩(wěn)定后顯示讀值 |
● |
● |
● |
● |
浮點(diǎn)或定點(diǎn)方式數(shù)據(jù)傳送 |
● |
● |
● |
● |
無(wú)需連接測(cè)頭即可讀數(shù)值 |
● |
● |
● | |
組內(nèi)單值延遲顯示 |
● |
● |
● | |
連續(xù)測(cè)量模式中顯示最小值 |
● |
● |
● |
● |
測(cè)頭 |
量程 |
低端分辨率 |
容差 |
最小曲率半徑(凸/凹) |
最小測(cè)量面積 |
最小基體厚度 |
尺寸(mm) | |
A1531540 |
FN1.6 |
0—1600μm |
0.1μm |
±(1%+1μm) |
1.5mm/10mm |
φ5mm |
F0.5mm/N50μm |
φ15x62 |
A1531541 |
FN1.6P |
0—1600μm |
0.1μm |
±(1%+1μm) |
只限平直表面 |
φ30mm |
F0.5mm/N50μm |
φ21x89 |
A1531542 |
FN2(也適合銅上鉻) |
0—2000μm |
0.2μm |
±(1%+1μm) |
1.5mm/10mm |
φ5mm |
F0.5mm/N50μm |
φ15x62 |
A1531532 |
F05 |
0—500μm |
0.1μm |
±(1%+0.7μm) |
1mm/5mm |
φ3mm |
0.2mm |
φ15x62 |
A1531533 |
F1.6 |
0—1600μm |
0.1μm |
±(1%+1μm) |
1.5mm/10mm |
φ5mm |
0.5mm |
φ15x62 |
A1531536 |
F3* |
0—3000μm |
0.2μm |
±(1%+1μm) |
1.5mm/10mm |
φ5mm |
0.5mm |
φ15x62 |
A1531534 |
F1.6/90(管內(nèi)測(cè)頭) |
0—1600μm |
0.1μm |
±(1%+1μm) |
平直/6mm |
φ5mm |
0.5mm |
φ8x8x170 |
A1531535 |
F2/90(管內(nèi)測(cè)頭) |
0—2000μm |
0.2μm |
±(1%+1μm) |
平直/6mm |
φ5mm |
0.5mm |
φ8x8x170 |
A1531537 |
F10 |
0—10mm |
5μm |
±(1%+10μm) |
5mm/16mm |
φ20mm |
1mm |
φ25x46 |
A1531538 |
F20 |
0—20mm |
10μm |
±(1%+10μm) |
10mm/30mm |
φ40mm |
2mm |
φ40x65 |
A1531539 |
F50 |
0—50mm |
10μm |
±(3%+50μm) |
50mm/200mm |
φ300mm |
2mm |
φ45x70 |
A1531543 |
N02 |
0—200μ |
0.1μm |
±(1%+0.5μmm) |
1mm/10mm |
φ2mm |
50μm |
φ16x70 |
A1531544 |
N08Cr(適合銅上鉻) |
0—80μm |
0.1μm |
±(1%+1μm) |
2.5mm |
φ2mm |
100μm |
φ15x62 |
A1531545 |
N1.6 |
0—1600μm |
0.1μm |
±(1%+1μm) |
1.5mm/10mm |
φ2mm |
50μm |
φ15x62 |
A1531547 |
N2 |
0—2000μm |
0.2μm |
±(1%+1μm) |
1.5mm/10mm |
φ5mm |
50μm |
φ15x62 |
A1531546 |
N1.6/90 (管內(nèi) 測(cè)頭) |
0—1600μm |
0.1μm |
±(1%+1μm) |
平直/10mm |
φ5mm |
50μm |
φ13x13x170 |
A1531548 |
N2/90 (管內(nèi)測(cè)頭) |
0—2000μm |
0.2μm |
±(1%+1μm) |
平直/10mm |
φ5mm |
50μm |
φ13x13x170 |
A1531549 |
N10 |
0—10mm |
10μm |
±(1%+25μm) |
25mm/100mm |
φ50mm |
50μm |
φ60x50 |
A1531550 |
N20 |
0—20mm |
10μm |
±(1%+50μm) |
25mm/100mm |
φ70mm |
50μm |
φ65x75 |
A1531551 |
N100 |
0—100mm |
100μm |
±(1%+0.3mm) |
100mm/平直 |
φ200mm |
50μm |
φ126x155 |
A1531552 |
CN02(絕緣基體上的有色金屬覆層) |
10—200μm |
0.2μm |
±(1%+1μm) |
只限平直表面 |
φ7mm |
無(wú)限制 |
φ17x80 |
產(chǎn)品訂貨號(hào) | 產(chǎn)品介紹 | 符合標(biāo)準(zhǔn) | 最小訂量 | 價(jià)格 | 貨期 | 備注 |
A1531188 | 涂層測(cè)厚儀:應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同測(cè)頭或測(cè)試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù)):1;數(shù)據(jù)總量:1;在粗糙表面上作平均零校準(zhǔn);利用PC機(jī)進(jìn)行基礎(chǔ)校準(zhǔn);保護(hù)并鎖訂校準(zhǔn)值;更換電池時(shí)存儲(chǔ)讀值;公英制轉(zhuǎn)換;連續(xù)測(cè)量模式中測(cè)量穩(wěn)定后顯示讀值;浮點(diǎn)或定點(diǎn)方式數(shù)據(jù)傳送;連續(xù)測(cè)量模式中顯示最小值;品牌:德國(guó)EPK | 1 | 16884 | 洽詢 | 備注 | |
A1531189 | 涂層測(cè)厚儀:應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同測(cè)頭或測(cè)試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù)):1;每個(gè)應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對(duì)組內(nèi)數(shù)據(jù)自動(dòng)統(tǒng)計(jì)計(jì)算,可設(shè)寬容度極限值)1;可用各自的日期時(shí)間標(biāo)識(shí)特性的組數(shù)1;數(shù)據(jù)總量:10000;讀數(shù)的六種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar;組統(tǒng)計(jì)值六種x,x,n,max,min,kvar;顯示并打印測(cè)量值、打印的日期和時(shí)間;透過(guò)涂層進(jìn)行校準(zhǔn)(CTC);在粗糙表面上作平均零校準(zhǔn);利用PC機(jī)進(jìn)行基礎(chǔ)校準(zhǔn);外設(shè)的讀值傳輸存儲(chǔ)功能;保護(hù)并鎖訂校準(zhǔn)值;更換電池時(shí)存儲(chǔ)讀值;公英制轉(zhuǎn)換;連續(xù)測(cè)量模式中測(cè)量穩(wěn)定后顯示讀值;浮點(diǎn)或定點(diǎn)方式數(shù)據(jù)傳送;無(wú)需連接測(cè)頭即可讀數(shù)值;組內(nèi)單值延遲顯示;連續(xù)測(cè)量模式中顯示最小值;品牌: 德國(guó)EPK | 1 | 20693 | 洽詢 | 備注 | |
A1531530 | 涂鍍層測(cè)厚儀:應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同測(cè)頭或測(cè)試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù)):10;每個(gè)應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對(duì)組內(nèi)數(shù)據(jù)自動(dòng)統(tǒng)計(jì)計(jì)算,可設(shè)寬容度極限值)10;可用各自的日期時(shí)間標(biāo)識(shí)特性的組數(shù)最多500;數(shù)據(jù)總量:10000;讀數(shù)的八種統(tǒng)計(jì)值x(均值的均值),s,n,max,min,kvar,cp,cpk;組統(tǒng)計(jì)值八種 x(均值的均值),s,n,max,min,kvar,cp,cpk;分組打印以上顯示和存儲(chǔ)得數(shù)據(jù)、統(tǒng)計(jì)值;顯示并打印測(cè)量值、打印的日期和時(shí)間;透過(guò)涂層進(jìn)行校準(zhǔn)(CTC);在粗糙表面上作平均零校準(zhǔn);利用PC機(jī)進(jìn)行基礎(chǔ)校準(zhǔn);補(bǔ)償一個(gè)常數(shù)(OFFSET);外設(shè)的讀值傳輸存儲(chǔ)功能;保護(hù)并鎖訂校準(zhǔn)值;更換電池時(shí)存儲(chǔ)讀值;設(shè)置極限值;公英制轉(zhuǎn)換;連續(xù)測(cè)量模式快速測(cè)量,通過(guò)模擬柱識(shí)別最大最小值;連續(xù)測(cè)量模式中測(cè)量穩(wěn)定后顯示讀值;浮點(diǎn)或定點(diǎn)方式數(shù)據(jù)傳送;無(wú)需連接測(cè)頭即可讀數(shù)值;組內(nèi)單值延遲顯示;連續(xù)測(cè)量模式中顯示最小值;品牌:德國(guó)EPK | 1 | 25163 | 洽詢 | 備注 | |
A1531531 | 涂鍍層測(cè)厚儀:應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同測(cè)頭或測(cè)試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù)):99;每個(gè)應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對(duì)組內(nèi)數(shù)據(jù)自動(dòng)統(tǒng)計(jì)計(jì)算,可設(shè)寬容度極限值)98;可用各自的日期時(shí)間標(biāo)識(shí)特性的組數(shù)最多500;數(shù)據(jù)總量:10000;讀數(shù)的八種統(tǒng)計(jì)值x(均值的均值),s,n,max,min,kvar,cp,cpk;組統(tǒng)計(jì)值八種 x(均值的均值),s,n,max,min,kvar,cp,cpk;存儲(chǔ)顯示每一應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù);分組打印以上顯示和存儲(chǔ)得數(shù)據(jù)、統(tǒng)計(jì)值;顯示并打印測(cè)量值、打印的日期和時(shí)間;透過(guò)涂層進(jìn)行校準(zhǔn)(CTC);在粗糙表面上作平均零校準(zhǔn);利用PC機(jī)進(jìn)行基礎(chǔ)校準(zhǔn);補(bǔ)償一個(gè)常數(shù)(OFFSET);外設(shè)的讀值傳輸存儲(chǔ)功能;保護(hù)并鎖訂校準(zhǔn)值;更換電池時(shí)存儲(chǔ)讀值;設(shè)置極限值;公英制轉(zhuǎn)換;連續(xù)測(cè)量模式快速測(cè)量,通過(guò)模擬柱識(shí)別最大最小值;連續(xù)測(cè)量模式中測(cè)量穩(wěn)定后顯示讀值;浮點(diǎn)或定點(diǎn)方式數(shù)據(jù)傳送;無(wú)需連接測(cè)頭即可讀數(shù)值;組內(nèi)單值延遲顯示;連續(xù)測(cè)量模式中顯示最小值;品牌:德國(guó)EPK | 1 | 28200 | 洽詢 | 備注 | |
A1531532 | 測(cè)頭:量程:0—500μm;低端分辨率:0.1μm;容差:±(1%+0.7μm);最小曲率半徑(凸/凹):1mm/5mm;最小測(cè)量面積:φ3mm;最小基體厚度:0.2mm;尺寸(mm):φ15x62;品牌:德國(guó)EPK | 1 | 10106 | 洽詢 | 備注 | |
A1531533 | 測(cè)頭:量程:0—1600μm;低端分辨率:0.1μm;容差:±(1%+1μm);最小曲率半徑(凸/凹):1.5mm/10mm;最小測(cè)量面積:φ5mm;最小基體厚度:0.5mm;尺寸(mm):φ15x62;品牌:德國(guó)EPK | 1 | 6648 | 洽詢 | 備注 | |
A1531534 | 管內(nèi)測(cè)頭:量程:0—1600μm;低端分辨率:0.1μm;容差:±(1%+1μm);最小曲率半徑(凸/凹):平直/6mm;最小測(cè)量面積:φ5mm;最小基體厚度:0.5mm;尺寸(mm):φ8x8x170;品牌:德國(guó)EPK | 1 | 14191 | 洽詢 | 備注 | |
A1531535 | 管內(nèi)測(cè)頭:量程:0—2000μm;低端分辨率:0.2μm;容差:±(1%+1μm);最小曲率半徑(凸/凹):平直/6mm;最小測(cè)量面積:φ5mm;最小基體厚度:0.5mm;尺寸(mm):φ8x8x170;品牌:德國(guó)EPK | 1 | 14191 | 洽詢 | 備注 | |
A1531536 | 測(cè)頭:量程:0—3000μm;低端分辨率:0.2μm;容差:±(1%+1μm);最小曲率半徑(凸/凹):1.5mm/10mm;最小測(cè)量面積:φ5mm;最小基體厚度:0.5mm;尺寸(mm):φ15x62;品牌:德國(guó)EPK | 1 | 6648 | 洽詢 | 備注 | |
A1531537 | 測(cè)頭:量程:0—10mm;低端分辨率:5μm;容差:±(1%+10μm);最小曲率半徑(凸/凹):5mm/16mm;最小測(cè)量面積:φ20mm;最小基體厚度:1mm;尺寸(mm):φ25x46;品牌:德國(guó)EPK | 1 | 10852 | 洽詢 | 備注 | |
A1531538 | 測(cè)頭:量程:0—20mm;低端分辨率:10μm;容差:±(1%+10μm);最小曲率半徑(凸/凹):10mm/30mm;最小測(cè)量面積:φ40mm;最小基體厚度:2mm;尺寸(mm):φ40x65;品牌:德國(guó)EPK | 1 | 11349 | 洽詢 | 備注 | |
A1531539 | 測(cè)頭:量程:0—50mm;低端分辨率:10μm;容差:±(3%+50μm);最小曲率半徑(凸/凹):50mm/200mm;最小測(cè)量面積:φ300mm;最小基體厚度:2mm;尺寸(mm):φ45x70;品牌:德國(guó)EPK | 1 | 32715 | 洽詢 | 備注 | |
A1531540 | 測(cè)頭:量程:0—1600μm;低端分辨率:0.1μm;容差:±(1%+1μm);最小曲率半徑(凸/凹):1.5mm/10mm;最小測(cè)量面積:φ5mm;最小基體厚度:F0.5mm/N50μm;尺寸(mm):φ15x62;品牌:德國(guó)EPK | 1 | 14787 | 洽詢 | 備注 | |
A1531541 | 測(cè)頭:量程:0—1600μm;低端分辨率:0.1μm;容差:±(1%+1μm);最小曲率半徑(凸/凹):只限平直表面;最小測(cè)量面積:φ30mm;最小基體厚度:F0.5mm/N50μm;尺寸(mm):φ21x89;品牌:德國(guó)EPK | 1 | 31215 | 洽詢 | 備注 | |
A1531542 | 測(cè)頭:也適合銅上鉻;量程:0—2000μm;低端分辨率:0.2μm;容差:±(1%+1μm);最小曲率半徑(凸/凹):1.5mm/10mm;最小測(cè)量面積:φ5mm;最小基體厚度:F0.5mm/N50μm;尺寸(mm):φ15x62;品牌:德國(guó)EPK | 1 | 17560 | 洽詢 | 備注 | |
A1531543 | 測(cè)頭:量程:0—200μ;低端分辨率:0.1μm;容差:±(1%+0.5μmm);最小曲率半徑(凸/凹):1mm/10mm;最小測(cè)量面積:φ2mm;最小基體厚度:50μm;尺寸(mm):φ16x70;品牌:德國(guó)EPK | 1 | 11478 | 洽詢 | 備注 | |
A1531544 | 測(cè)頭:適合銅上鉻;量程:0—80μm;低端分辨率:0.1μm;容差:±(1%+1μm);最小曲率半徑(凸/凹):2.5mm;最小測(cè)量面積:φ2mm;最小基體厚度:100μm;尺寸(mm):φ15x62;品牌:德國(guó)EPK | 1 | 11478 | 洽詢 | 備注 | |
A1531545 | 測(cè)頭:量程:0—1600μm;低端分辨率:0.1μm;容差:±(1%+1μm);最小曲率半徑(凸/凹):1.5mm/10mm;最小測(cè)量面積:φ2mm;最小基體厚度:50μm;尺寸(mm):φ15x62;品牌:德國(guó)EPK | 1 | 10494 | 洽詢 | 備注 | |
A1531546 | 管內(nèi)測(cè)頭:量程:0—1600μm;低端分辨率:0.1μm;容差:±(1%+1μm);最小曲率半徑(凸/凹):平直/10mm;最小測(cè)量面積:φ5mm;最小基體厚度:50μm;尺寸(mm):φ13x13x170;品牌:德國(guó)EPK | 1 | 16577 | 洽詢 | 備注 | |
A1531547 | 測(cè)頭:量程:0—2000μm;低端分辨率:0.2μm;容差:±(1%+1μm);最小曲率半徑(凸/凹):1.5mm/10mm;最小測(cè)量面積:φ5mm;最小基體厚度:50μm;尺寸(mm):φ15x62;品牌:德國(guó)EPK | 1 | 22390 | 洽詢 | 備注 | |
A1531548 | 管內(nèi)測(cè)頭:量程:0—2000μm;低端分辨率:0.2μm;容差:±(1%+1μm);最小曲率半徑(凸/凹):平直/10mm;最小測(cè)量面積:φ5mm;最小基體厚度:50μm;尺寸(mm):φ13x13x170;品牌:德國(guó)EPK | 1 | 16577 | 洽詢 | 備注 | |
A1531549 | 測(cè)頭:量程:0—10mm;低端分辨率:10μm;容差:±(1%+25μm);最小曲率半徑(凸/凹):25mm/100mm;最小測(cè)量面積:φ50mm;最小基體厚度:50μm;尺寸(mm):φ60x50;品牌:德國(guó)EPK | 1 | 22390 | 洽詢 | 備注 | |
A1531550 | 測(cè)頭:量程:0—20mm 低端分辨率:10μm;容差:±(1%+50μm);最小曲率半徑(凸/凹):25mm/100mm;最小測(cè)量面積:φ70mm;最小基體厚度:50μm;尺寸(mm):φ65x75;品牌:德國(guó)EPK | 1 | 22390 | 洽詢 | 備注 | |
A1531551 | 測(cè)頭:量程:0—100mm;低端分辨率:100μm;容差:±(1%+0.3mm);最小曲率半徑(凸/凹):100mm/平直;最小測(cè)量面積:φ200mm;最小基體厚度:50μm;尺寸(mm):φ126x155;品牌:德國(guó)EPK | 1 | 28400 | 洽詢 | 備注 | |
A1531552 | 測(cè)頭:絕緣基體上的有色金屬覆層:量程:10—200μm;低端分辨率:0.2μm;容差:±(1%+1μm);最小曲率半徑(凸/凹):只限平直表面;最小測(cè)量面積:φ7mm;最小基體厚度:無(wú)限制;尺寸(mm):φ17x80;品牌:德國(guó)EPK | 1 | 16397 | 洽詢 | 備注 | |
A1531553 | 測(cè)頭:鐵基體上未固化粉末涂層:0-1600um,低端分辨率0.1um;品牌:德國(guó)EPK | 1 | 20690 | 洽詢 | 備注 | |
A1531554 | 測(cè)頭:鋁箔或鋁薄壁管上薄涂層;0-200um,分辨率0.1um;品牌:德國(guó)EPK | 1 | 22688 | 洽詢 | 備注 | |
A1531555 | 用于測(cè)頭N02 Tu的專用支架;品牌:德國(guó)EPK | 1 | 33421 | 洽詢 | 備注 | |
A1531556 | RS232 接口電纜 for 2100/4100;品牌:德國(guó)EPK | 1 | 930 | 洽詢 | 備注 | |
A1531557 | MSOFT41 數(shù)據(jù)分析軟件 for 4100:配MiniTest 1100/2100/3100/4100 (用于連接個(gè)人電腦);品牌:德國(guó)EPK | 1 | 4651.7 | 洽詢 | 備注 | |
A1531558 | 精密探頭支架:Probe guide, precision;品牌:德國(guó)EPK | 1 | 36385 | 洽詢 | 備注 | |
AL1532285 | MiniPrint4100專用打印機(jī):適合EPK除700系列所有產(chǎn)品;品牌:德國(guó)EPK | 1 | 7891 | 洽詢 | 備注 | |
AL1532286 | MiniPrint4100-2包可充電電池:(需2包電池,version 2&3);品牌:德國(guó)EPK | 1 | 640 | 洽詢 | 備注 | |
AL1532287 | 測(cè)頭:鐵及銅鋁基體上未固化粉末涂層:0-1600um,分辨率0.1um;品牌:德國(guó)EPK | 1 | 19617 | 洽詢 | 備注 | |
AL1532288 | 測(cè)頭:鐵基體上涂層,250度高溫探頭,量程0-2mm;品牌:德國(guó)EPK | 1 | 11359 | 洽詢 | 備注 | |
AL1532289 | 測(cè)頭:鐵基體上涂層,350度高溫探頭,量程0-2mm;品牌:德國(guó)EPK | 1 | 32468 | 洽詢 | 備注 |
產(chǎn)品名稱 | 產(chǎn)品訂貨號(hào) | 簡(jiǎn)要說(shuō)明 | 送貨時(shí)間 | 價(jià)格 | 搜索關(guān)鍵字 | |||||||||
手持式涂層測(cè)厚儀 | A1531884 |
量 程:0~2000μm。 精 度:±1μm(0~50μm);±2%(50μm~… | 洽詢 | 8300 |
涂層測(cè)厚儀廠家 超聲波涂層測(cè)厚儀 磁性涂層測(cè)厚儀 |
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磁性測(cè)厚儀 | A1501016 |
1 測(cè)定范圍: O-500μm 2 測(cè)量精度: 40μm 以下±2μm 40μm 以… | 洽詢 | 1500 |
磁性覆層測(cè)厚儀 涂層測(cè)厚儀 |
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磁性涂層測(cè)厚儀 | A1531888 |
技術(shù)參數(shù) A1531888 A1531889 鋼或… | 洽詢 | 13370 |
磁性測(cè)厚儀原理 進(jìn)口涂層測(cè)厚儀 涂層測(cè)厚儀生產(chǎn) |
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磁性測(cè)厚儀 | A1501025 |
1. 測(cè)量范圍:0um---2000um 2. 示值誤差:±5% 3. 使用環(huán)境溫度:… | 洽詢 | 2400 |
磁性涂層測(cè)厚儀 磁性測(cè)厚儀操作規(guī)程 |
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涂層測(cè)厚儀 | A1532166 |
A1532166 A1532167 測(cè)頭… | 洽詢 | 1750 |
磁性涂層測(cè)厚儀 進(jìn)口涂層測(cè)厚儀 表面涂層測(cè)厚儀 |
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涂層測(cè)厚儀 | A1532171 |
測(cè)頭類型 A1532171 A1532172 … | 洽詢 | 3000 |
磁性涂層測(cè)厚儀 進(jìn)口涂層測(cè)厚儀 測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片 |
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涂層測(cè)厚儀 | A1532174 |
測(cè)頭類型 A1532174 A1532175 … | 洽詢 | 1166 |
進(jìn)口涂層測(cè)厚儀 測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片 表面涂層測(cè)厚儀 |
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涂層測(cè)厚儀 | A1532176 |
測(cè)頭類型 F1或N1 工作原理 … | 洽詢 | 6333 |
進(jìn)口涂層測(cè)厚儀 測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片 表面涂層測(cè)厚儀 |
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涂層測(cè)厚儀 | A1532222 |
A1532222 A1532221 存儲(chǔ) 50… | 洽詢 | 5833 |
進(jìn)口涂層測(cè)厚儀 測(cè)厚儀哪個(gè)牌子最好 涂層測(cè)厚儀原理 |
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涂層測(cè)厚儀 | A1532224 |
測(cè)頭類型 F1 工作原理 磁感應(yīng) … | 洽詢 | 2166 |
進(jìn)口涂層測(cè)厚儀 測(cè)厚儀哪個(gè)牌子最好 涂層測(cè)厚儀原理 |
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